一种测试机台及芯片测试系统
授权
摘要
本申请提供一种测试机台及芯片测试系统，涉及芯片测试技术领域。测试机台包括：机台外壳；设置于所述机台外壳内部的PCB板；固定安装于所述机台外壳内部的光源装置，所述光源装置的安装方向与所述机台外壳的第一表面成第一预设角度；所述第一表面为出光面，所述出光面上设有出光口，所述光源装置发出的光线从所述出光口透出。本申请提供的测试机台内集成了测试所需的光源装置，集成度高，且由于机台内专门留出了光源结构的空间，光源本身可以做得更大，有利于在机台内放置光质量更好的光源，相较于现有技术中外置的小光源，光信号质量得到提升，同时，还能减少测试时间，提高测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种测试机台及芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020357370.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-19
授权号 ：
CN211905594U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
张悦
申请人 ：
合肥悦芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
唐正瑜
优先权 ：
CN202020357370.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01M11/04 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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