一种半自动化芯片测试机台
授权
摘要
本实用新型公开了一种半自动化芯片测试机台，包含测试机座、测试台与动作机构，所述的测试台设置在所述的测试机座上，是由底板、背板与左右各一个支撑板组成的开放式箱体，用于置放测试芯片并执行测试动作；所述的动作机构包含气缸，设置在所述的测试台的顶端，用于自动压紧测试芯片，本实用新型包含机座、测试台与动作机构，整个测试过程由程序控制，减少人的参与，大大提高了内存芯片的测试效率与减少纯人工测试的失误率，本技术方案可以实现对内存芯片的半自动化测试，可以达到为企业节省成本的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种半自动化芯片测试机台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122497259.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-18
授权号 ：
CN216209663U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
杨密凯杨松坤李斌
申请人 ：
深圳市宏旺微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202122497259.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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