一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型属于短波段成像光学领域,具体的说是一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置。在本实用新型中设计了如图所表示的检测装置,整个光学系统均处于真空条件下,极紫外光源发出极紫外光束经过精密刻画的金属栅网后,打到反射镜和,最后经过待测极紫外成像光学系统在极紫外相机上成像,金属栅网的网格尺度与所成的像进行比较,经过计算即可得到待测光学系统的分辨率数据。本实用新型的有益效果为:提供了一种结构简单、性能可靠能够对极紫外成像光学仪器成像质量进行测试的装置。

基本信息
专利标题 :
一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620149569.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-18
授权号 :
CN201078747Y
授权日 :
2008-06-25
发明人 :
巩岩
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
130031吉林省长春市东南湖大路16号
代理机构 :
长春菁华专利商标代理事务所
代理人 :
南小平
优先权 :
CN200620149569.5
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2011-03-09 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101055730557
IPC(主分类) : G01M 11/00
专利号 : ZL2006201495695
申请日 : 20061218
授权公告日 : 20080625
终止日期 : 20100118
2008-06-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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