一种X射线设备用成像质量测试装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种X射线设备用成像质量测试装置,涉及X射线设备检测领域,其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体,其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中,本发明可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况,便于判断异常出现位置,利用测试人员可观察到X射线的指示区域,简化测试的操作,提高测试的准确性,且装置本体具有较低的成本,适合于机构日常对X射线设备的自行检测,确保X射线设备的运行成像质量,便于及时发现设备问题,也为第三方检测前便于机构自行提前校正,整体提高X射线设备管理的效率。

基本信息
专利标题 :
一种X射线设备用成像质量测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441575A
申请号 :
CN202011123356.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-10-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周利谢卫华
申请人 :
广东德鑫医疗科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市莞城金牛路八达花园金牛大厦201
代理机构 :
广东世纪专利事务所有限公司
代理人 :
刘卉
优先权 :
CN202011123356.6
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  G01N23/083  G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20201020
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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