一种X射线设备用成像质量测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种X射线设备用成像质量测试装置，涉及X射线设备检测领域，其包括用于吸收X射线形成测试图像的基体和用于吸收X射线并反射可见光的荧光体，其中基体设有条纹区域并且荧光体可形成X射线的指示区域。在X射线设备摄像质量的检测过程中，本实用新型可便于隔室直观观察基体的X射线辐射状况，便于判断异常出现位置，利用测试人员可观察到X射线的指示区域，简化测试的操作，提高测试的准确性，且装置本体具有较低的成本，适合于机构日常对X射线设备的自行检测，确保X射线设备的运行成像质量，便于及时发现设备问题，也为第三方检测前便于机构自行提前校正，整体提高X射线设备管理的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线设备用成像质量测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022347649.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-20
授权号 ：
CN212622331U
授权日 ：
2021-02-26
发明人 ：
周利谢卫华
申请人 ：
广东德鑫医疗科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市莞城金牛路八达花园金牛大厦201
代理机构 ：
广东世纪专利事务所有限公司
代理人 ：
刘卉
优先权 ：
CN202022347649.4
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223 G01N23/083 G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2021-02-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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