粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置
专利权的终止
摘要

在粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置中,对作为检查对象的药剂10a、10b进行摄像,把该摄像的图像各像素的像素值加以数字化,沿着对应于数字图像内的药剂10a、10b的块区域的轮廓线分散多个参照点,从各个参照点,计数通过块区域内部可以看透的其他参照点的数量,把计数值最小的参照点作为基准点提取,把该基准点数作为粒状物体的个数进行计数。由此,即使当作为检查对象的多个粒状物体重叠、接触以及单面有凹陷的药剂竖起时,也可以正确计数粒状物体的个数。

基本信息
专利标题 :
粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101175990A
申请号 :
CN200680005617.6
公开(公告)日 :
2008-05-07
申请日 :
2006-02-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
奥斯卡·万格斯白泽满
申请人 :
松下电工株式会社
申请人地址 :
日本大阪府
代理机构 :
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 :
申健
优先权 :
CN200680005617.6
主分类号 :
G01N21/85
IPC分类号 :
G01N21/85  A61J3/00  G06T1/00  G06T7/60  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/85
测试移动的流体或粒状固体
法律状态
2017-04-05 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101711958228
IPC(主分类) : G01N 21/85
专利号 : ZL2006800056176
申请日 : 20060220
授权公告日 : 20110420
终止日期 : 20160220
2011-04-20 :
授权
2008-07-02 :
实质审查的生效
2008-05-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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