一种使用面阵CCD快速测量相干背散射的装置
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要
一种使用面阵CCD快速测量相干背散射的装置，涉及光子局域化的检测技术领域，利用了面阵CCD对数据进行测量并对所得二维数据进行一维积分处理的方法，通过把常用光路中的一个透镜换成柱透镜的办法，极大地简化了对数据的后续处理的复杂度和进行运算的强度在非积分的一维方向上，因此积分以后可以使用原拟合公式进行拟合而不用进行处理，因此极大地简化了处理过程，缩短处理时间，并保留了数据的细节信息。
基本信息
专利标题 ：
一种使用面阵CCD快速测量相干背散射的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720029551.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-06
授权号 ：
CN201149580Y
授权日 ：
2008-11-12
发明人 ：
范书振张行愚王青圃张琛丛振华张晓磊秦增光张真刘兆军
申请人 ：
山东大学
申请人地址 ：
250100山东省济南市历下区山大南路27号
代理机构 ：
济南金迪知识产权代理有限公司
代理人 ：
许德山
优先权 ：
CN200720029551.6
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2009-08-05 ：
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2007116
2008-11-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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