一种折光补偿—微流动分析系统荧光检测池
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及荧光检测装置,特别是一种折光补偿—微流动分析系统荧光检测池,包括检测池主体,于检测池主体的中心部位设置有密封的空腔,空腔内填充有折光补偿液体;一透明毛细管横向穿置于空腔中,其二端沿伸出检测池主体的外部,形成毛细管通道;二条相互垂直的光纤插入空腔中、且它们处于与毛细管通道相垂直的平面内,其中一条光纤作为激发光路,另一条光纤作为荧光收集光路;所述激发光路、荧光收集光路毛细管通道三者的中心线相互垂直共扼交叉自然对准。本实用新型具有光学背景低、柱外效应小、使用方便等优点。

基本信息
专利标题 :
一种折光补偿—微流动分析系统荧光检测池
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820011638.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-19
授权号 :
CN201177602Y
授权日 :
2009-01-07
发明人 :
徐静关亚风熊艳
申请人 :
中国科学院大连化学物理研究所
申请人地址 :
116023辽宁省大连市中山路457号
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
马驰
优先权 :
CN200820011638.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N33/50  G01N21/03  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2018-04-13 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20080319
授权公告日 : 20090107
2009-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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