微全分析系统非接触电导与荧光检测装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及一种分析仪器,具体涉及在同点同时进行非接触电导与荧光检测的微全分析系统的检测装置。在芯片的分离通道旁设置两个非接触电导电极,向其中一个检测电极输入高频信号,在另一个电极检测微通道内的溶液在两检测电极间区域的高频电导信号。荧光检测的激发光源使用发光二极管,其入射光对准微通道在两个非接触电导电极之间的区域,通过检光元件检测荧光信号。本实用新型的优点在于可实现在同点同时进行荧光检测和电导检测,获得多种信息。
基本信息
专利标题 :
微全分析系统非接触电导与荧光检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720047999.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-01-30
授权号 :
CN201016979Y
授权日 :
2008-02-06
发明人 :
陈缵光刘翠李偶连蓝悠
申请人 :
中山大学
申请人地址 :
510275广东省广州市新港西路135号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200720047999.0
主分类号 :
G01N35/00
IPC分类号 :
G01N35/00 G01N27/00 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析;及材料的传送
法律状态
2011-04-20 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101063895122
IPC(主分类) : G01N 35/00
专利号 : ZL2007200479990
申请日 : 20070130
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20100130
号牌文件序号 : 101063895122
IPC(主分类) : G01N 35/00
专利号 : ZL2007200479990
申请日 : 20070130
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20100130
2008-02-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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