光刻机投影物镜偶像差原位检测系统
专利权的终止
摘要

一种光刻机投影物镜偶像差原位检测系统,所述系统包括光源、照明系统、测试掩模、掩模台、投影物镜、工件台、安装在所述工件台上的像传感装置、数据采集卡以及计算机。所述像传感装置包括孔径光阑、成像物镜、光电探测器。所述测试掩模包含一种用于偶像差原位检测的测试标记,由0°、45°、90°、135°四个方向的移相光栅标记组成,光栅的线空比经过优化,达到最大的像差灵敏度。本实用新型的优点是提高了偶像差的检测精度。

基本信息
专利标题 :
光刻机投影物镜偶像差原位检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820055177.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-01-25
授权号 :
CN201166781Y
授权日 :
2008-12-17
发明人 :
袁琼雁王向朝邱自成
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820055177.1
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  G03F1/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2018-02-09 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20080125
授权公告日 : 20081217
终止日期 : 20170125
2008-12-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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