对待检测目标进行打光的方法、系统和存储装置

授权

摘要

一种对待检测目标进行打光的方法、系统和存储装置，方法包括：获取待检测目标的特征信息(S12)；确定检测目标组中与特征信息对应的检测目标(S13)；根据检测目标对应的优化打光参数对待检测目标进行打光(S14)。针对检测目标的特征进行打光，使得检测识别的准确性较高。

基本信息

专利标题：

对待检测目标进行打光的方法、系统和存储装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109314750A

申请号：

CN201780028398.1

公开（公告）日：

2019-02-05

申请日：

2017-05-27

授权号：

CN109314750B

授权日：

2022-04-15

发明人：

阳光

申请人：

深圳配天智能技术研究院有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区沙井街道蚝乡路沙井工业公司第三工业区

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

李庆波

优先权：

CN201780028398.1

主分类号：

H04N5/235

IPC分类号：

H04N5/235

法律状态

2022-04-15 ：

授权

2019-03-15 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : H04N 5/235
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳配天智能技术研究院有限公司
变更后 : 深圳配天智能技术研究院有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518063 广东省深圳市宝安区沙井街道蚝乡路沙井工业公司第三工业区
变更后 : 518063 广东省深圳市南山区粤海街道高新区高新南一道德赛科技大厦23层（2303-2306室）

2019-03-05 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : H04N 5/235
申请日 : 20170527

2019-02-05 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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