半导体器件和错误管理方法
授权
摘要
可以提供一种错误管理系统。所述错误管理系统可以包括：错误分析单元，其被配置为通过对多个管理块中的错误校正发生进行计数来生成错误校正计数值，并且通过比较错误校正计数值和至少一个参考值来生成用于限定在多个管理块中产生的错误是永久错误还是暂时错误的永久错误块信息。所述错误管理系统可以包括块控制单元，其被配置为：当在永久错误块信息中预先指定多个管理块中的根据地址信号选择的管理块时，用新地址信号替换地址信号。
基本信息
专利标题 ：
半导体器件和错误管理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109119126A
申请号 ：
CN201810145664.5
公开（公告）日 ：
2019-01-01
申请日 ：
2018-02-12
授权号 ：
CN109119126B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
金雄來
申请人 ：
爱思开海力士有限公司
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李琳
优先权 ：
CN201810145664.5
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42 G11C29/44 G06F11/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2019-01-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/42
申请日 : 20180212
申请日 : 20180212
2019-01-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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