版图数据检查分配方法

授权

摘要

本发明公开了一种版图数据检查分配方法，包括如下步骤：步骤一，抽取版图中的各个层次的信息；步骤二，计算每个层次的多边形图形的数目；步骤三，计算设计规则检查演算式的层次的系数；步骤四，根据图形数目和系数，推算层次的加载系数；步骤五，根据加载系数，将层次分配到不同的分布式处理器做检查。本发明解决了现有技术中处理检查大规模的物理版图数据运算时间过长、速度较慢的问题。

基本信息

专利标题：

版图数据检查分配方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108595795A

申请号：

CN201810319793.1

公开（公告）日：

2018-09-28

申请日：

2018-04-11

授权号：

CN108595795B

授权日：

2022-05-20

发明人：

张兴洲张燕荣

申请人：

上海华虹宏力半导体制造有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司

代理人：

戴广志

优先权：

CN201810319793.1

主分类号：

G06F17/50

IPC分类号：

G06F17/50