一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法
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摘要
一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法,首先对帆板模型进行简化得到两个分别用于杂光直接进入分析、用于杂光一次镜面反射进入分析的简化模型,然后分别计算太阳光、月球光、地面地气光的可视范围角,最后利用杂光光源、干扰途径和敏感器特性推导出的判别公式,分别进行杂光直接进入干扰分析、杂光反射进入干扰分析。本发明提出的成像式敏感器动态杂光快速分析方法,解决了在引入考虑挠性附件振动的整星动力学条件下,利用杂光光源、干扰途径和相机特性推导可大幅降低运算量的直接判别算法,可考虑挠性附件表面反射产生的动态杂光干扰,分析效率显著提升,具有很好的使用价值。
基本信息
专利标题 :
一种成像式敏感器动态杂光快速分析方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108647416A
申请号 :
CN201810402692.0
公开(公告)日 :
2018-10-12
申请日 :
2018-04-28
授权号 :
CN108647416B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
龙也张国琪郎燕张迎发宋明超宋晓光徐春蒋金哲
申请人 :
北京控制工程研究所
申请人地址 :
北京市海淀区北京2729信箱
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
武莹
优先权 :
CN201810402692.0
主分类号 :
G06F17/50
IPC分类号 :
G06F17/50
法律状态
2022-06-03 :
授权
2018-11-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/50
申请日 : 20180428
申请日 : 20180428
2018-10-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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