用于跳频信号的相位相干分析的测量设备和方法
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摘要
本发明提供了一种用于跳频信号的相位相干分析的测量设备和方法。所述测量设备包括：信号获取单元以及分析单元。其中，所述信号获取单元被配置为获取同相/正交相位信号(I/Q信号)，并向所述分析单元提供所述I/Q信号；所述分析单元被配置为基于提供的所述I/Q信号，在标称跳频频率处检测跳频事件。除此之外，所述分析单元还被配置为指定关于所述跳频事件的至少一个公共参考频率。
基本信息
专利标题 ：
用于跳频信号的相位相干分析的测量设备和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109581049A
申请号 ：
CN201810736970.6
公开（公告）日 ：
2019-04-05
申请日 ：
2018-07-06
授权号 ：
CN109581049B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
安德里亚斯·拉格勒卢克·西里洛
申请人 ：
罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄志华
优先权 ：
CN201810736970.6
主分类号 ：
G01R23/02
IPC分类号 ：
G01R23/02
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R23/00
测量频率的装置；频谱分析装置
G01R23/02
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法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-07-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 23/02
申请日 : 20180706
申请日 : 20180706
2019-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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