软件可靠性加速测试的失效数据还原方法及测试方法
授权
摘要

本发明涉及一种软件可靠性加速测试的失效数据还原方法及测试方法,所述还原方法包括以下步骤:1)构造多组高应力水平,在各高应力水平下进行若干次被测软件的加速寿命试验;2)采集各高应力水平下的失效时间序列,计算对应的平均失效时间;3)对各高应力水平及对应的平均失效时间进行拟合,获得应力水平与平均失效时间的关系函数;4)基于关系函数获得正常应力水平下的平均失效时间;5)计算各高应力水平与正常应力水平对应的平均失效时间的比例关系;6)基于比例关系将步骤2)采集的各高应力水平下的失效时间序列还原到正常应力水平下,获得正常应力水平下的失效时间序列。与现有技术相比,本发明具有缩减可靠性测试时间、成本低等优点。

基本信息
专利标题 :
软件可靠性加速测试的失效数据还原方法及测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109165108A
申请号 :
CN201810845766.8
公开(公告)日 :
2019-01-08
申请日 :
2018-07-27
授权号 :
CN109165108B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
江建慧张威陈荣兴张颖
申请人 :
同济大学
申请人地址 :
上海市杨浦区四平路1239号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
翁惠瑜
优先权 :
CN201810845766.8
主分类号 :
G06F11/00
IPC分类号 :
G06F11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
法律状态
2022-04-05 :
授权
2019-02-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/00
申请日 : 20180727
2019-01-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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