本发明提出了一种基于ATE设备芯片测试的加速方法、装置及测试机系统。加速方法包括：选定引脚电路芯片并进行配置；引脚电路芯片采集待测芯片反馈的测试数据；在预设时间间隔，每块业务板上的FPGA并行读取该业务板上所有引脚电路芯片中的测试数据，并将读取的测试数据存储在FPGA中；测试程序通过读取每块业务板上FPGA中存储的数据，获取该业务板上所有引脚电路芯片的测试数据；测试程序分析测试数据，完成对待测试芯片的测试。本发明提出的方案通过减少ATE设备在芯片测试过程中测试程序对引脚电路芯片的访问次数，进而减少对芯片的配置时间和读取时间，缩短芯片测试时间，提高芯片测试效率，且无须做硬件上的调整，只需对业务板上的FPGA进行进行设计升级。