芯片与效能监控方法
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摘要

一种芯片与效能监控方法。芯片包含至少一振荡器电路系统以及控制器电路系统。至少一振荡器电路系统设置于该芯片内的不同位置,并分别产生多个振荡信号。控制器电路系统传输这些振荡信号至一外部系统,以根据这些振荡信号决定该芯片的一效能。至少一个振荡器电路系统中每一者包含第一振荡器电路以及第二振荡器电路。第一振荡器电路感测该芯片内的半导体装置变异,以产生这些振荡信号中的第一振荡信号。第二振荡器电路感测该芯片内的寄生元件变异,以产生这些振荡信号中的第二振荡信号。本案芯片可根据芯片内所产生的多个振荡信号的频率决定效能,其中多个振荡信号设置以反映出多种变异因素(装置、阻值、电压等等),以更准确地估计芯片的效能。

基本信息
专利标题 :
芯片与效能监控方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111103522A
申请号 :
CN201811246223.0
公开(公告)日 :
2020-05-05
申请日 :
2018-10-25
授权号 :
CN111103522B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
汪鼎豪林倍如
申请人 :
创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾新竹科学园区力行六路10号
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
徐金国
优先权 :
CN201811246223.0
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-01 :
授权
2020-05-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20181025
2020-05-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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