蛋质评价方法、蛋质评价装置和程序
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摘要
在蛋质评价方法中，根据在开蛋后的状态下测得的蛋黄的直径(D)和蛋黄的高度(H)来计算出与蛋黄膜的弹性有关的物性值。在为了实施这样的蛋质评价方法的蛋质评价装置(1)中具备：蛋黄直径测量部(2)，其测量蛋黄的直径(D)；蛋黄高度测量部(3)，其测量蛋黄的高度(H)；以及物性值计算部(4)，其根据蛋黄的直径(D)和蛋黄的高度(H)来计算出与蛋黄膜的弹性有关的物性值。
基本信息
专利标题 ：
蛋质评价方法、蛋质评价装置和程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110709697A
申请号 ：
CN201880036016.4
公开（公告）日 ：
2020-01-17
申请日 ：
2018-05-15
授权号 ：
CN110709697B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
藤谷伸一
申请人 ：
股份公司南备尔
申请人地址 ：
日本京都府
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN201880036016.4
主分类号 ：
G01N33/08
IPC分类号 ：
G01N33/08
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
G01N33/02
食物
G01N33/08
蛋，例如用光照
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-02-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 33/08
申请日 : 20180515
申请日 : 20180515
2020-01-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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