处理头、处理系统以及处理基板的局部表面区域的方法
授权
摘要
本发明提供一种处理基板的表面区域的处理头,其包括壳体、排放开口、辐射式加热器、等离子源以及出口开口。壳体具有主表面,主表面被配置成邻近欲被处理的基板的表面区域设置且面对基板的表面区域。排放开口位于壳体的主表面中,且能够经由至少部分地形成于壳体中的排放气体路径连接至排放装置。辐射式加热器设置于壳体中,以经由主表面中的辐射开口发出热量辐射。等离子源设置于壳体中,以经由主表面中的等离子离开开口发出等离子射流。出口开口位于壳体的主表面中,且能够经由至少部分地形成于壳体中的气体路径连接至气体源。排放开口的中心、辐射开口的中心、等离子离开开口的中心及出口开口的中心沿主表面的第一方向以上述次序排列。
基本信息
专利标题 :
处理头、处理系统以及处理基板的局部表面区域的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111149064A
申请号 :
CN201880062859.1
公开(公告)日 :
2020-05-12
申请日 :
2018-12-03
授权号 :
CN111149064B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
伍威·戴兹马丁·萨玛约亚
申请人 :
休斯微科光罩仪器股份有限公司
申请人地址 :
德国斯特内弗斯佛地奈特凡斯缇贝斯雷10(邮递区号:75447)
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
何冲
优先权 :
CN201880062859.1
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20 H01L21/02 B05B1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2022-05-06 :
授权
2020-08-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20181203
申请日 : 20181203
2020-05-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载