雷达高度表低截获性能测试方法

授权

摘要

本发明公开的一种雷达高度表低截获性能测试方法，旨在提供一种测试指标全、测试精度高、测试成本低的雷达高度表低截获性能测试方法。本发明通过下述技术方案实现：控制计算机将复杂场景模拟信息送入雷达高度表复杂场景模拟器，将生成的回波信号输出到雷达高度表启动射频管控软件，实时管理雷达高度表的辐射开关状态，分析雷达高度表在测高范围内任一高度上正常工作时对有效辐射功率的需求，确定在满足测高性能的前提下最小的辐射功率，通过功分器相连的天线将发射信号送入功率计，对雷达高度表发射信号进行测试，将辐射时间、辐射功率传输到性能分析计算机，根据功率计的辐射参数测量结果进行分析，计算得到功率控制范围、步进、精度和截获因子。

基本信息

专利标题：

雷达高度表低截获性能测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110045341A

申请号：

CN201910153681.8

公开（公告）日：

2019-07-23

申请日：

2019-02-28

授权号：

CN110045341B

授权日：

2022-06-14

发明人：

曾小东杨芸王亚涛焦健任然白建亮

申请人：

西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)

申请人地址：

四川省成都市金牛区茶店子东街48号

代理机构：

成飞(集团)公司专利中心

代理人：

郭纯武

优先权：

CN201910153681.8

主分类号：

G01S7/40

IPC分类号：

G01S7/40 G01S13/08 G01S13/93