硝酸根型层状铕氢氧化物在检测钼酸根中的应用
授权
摘要

本发明涉及物质检测技术领域,特别是涉及硝酸根型层状铕氢氧化物在检测钼酸根中的应用。本发明所提供的应用,首次采用层状稀土氢氧化物为检测剂,在常温条件下,由于钼酸根与稀土元素之间的天线效应,通过荧光强度的改变可以检测出钼酸根的存在,发现在短时间内能通过荧光来变化判断微量的MoO4的存在。经过验证,用0.1g硝酸根型层状铕氢氧化物可以在30分钟内检测到100ppm浓度的钼酸根溶液。为探测水溶液中的钼酸根提供了一个温和、简单有效的方法。该应用为检测钼酸根提供一种新思路,也对于光学材料在工业、医药等领域的应用起到了促进作用。

基本信息
专利标题 :
硝酸根型层状铕氢氧化物在检测钼酸根中的应用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110346339A
申请号 :
CN201910651677.4
公开(公告)日 :
2019-10-18
申请日 :
2019-07-18
授权号 :
CN110346339B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
杨晓晶邵百一
申请人 :
京师北中横琴科技研究院有限公司;北京师范大学
申请人地址 :
广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号横琴创意谷6栋
代理机构 :
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张函
优先权 :
CN201910651677.4
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G01N21/3563  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-04-05 :
授权
2022-04-01 :
专利申请权、专利权的转移
专利申请权的转移IPC(主分类) : G01N 21/64
登记生效日 : 20220318
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 京师北中横琴科技研究院有限公司
变更后权利人 : 北京师范大学
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 519031 广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号横琴创意谷6栋
变更后权利人 : 100875 北京市海淀区新街口外大街19号
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 北京师范大学
2019-11-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20190718
2019-10-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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