一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质
授权
摘要
本发明实施例公开了一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质。该测量方法包括：照射测量平台的支撑板上第一预设区域的多个公共测量点，以获取所述多个公共测量点基于第一坐标系的多个第一坐标，所述多个公共测量点基于所述测量平台的第二坐标系具有多个第二坐标；根据所述多个第一坐标和多个第二坐标确定所述第一坐标系和第二坐标系的转换关系；通过所述转换关系获取所述工件基于所述测量平台的第二坐标系的初始坐标；基于所述初始坐标对所述工件进行三坐标测量，以获取所述工件在所述第二坐标系的测量参数。本发明实施例实现了不同种工件三坐标测量的自动化。
基本信息
专利标题 ：
一种工件的三坐标测量方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112414340A
申请号 ：
CN201910778205.5
公开（公告）日 ：
2021-02-26
申请日 ：
2019-08-22
授权号 ：
CN112414340B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
刘思仁范晓骏郑哲恩邢宏文方伟沈立恒
申请人 ：
上海飞机制造有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区上飞路919号
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
孟金喆
优先权 ：
CN201910778205.5
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-03-16 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/00
申请日 : 20190822
申请日 : 20190822
2021-02-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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