一种片上系统及USB物理层测试方法
授权
摘要
本发明提供一种片上系统，用于测试USB物理层，包括：微控制单元，与上位机连接；现场可编程门阵列，包括：数据发生器，与微控制单元连接；数据校验器，与微控制单元连接；以及USB物理层收发器，与微控制单元、数据发生器和数据校验器连接；其中，微控制单元接收并响应于上位机的测试指令，控制数据发生器生成测试激励数据，以用于测试USB物理层，控制USB物理层收发器接收并发送测试激励数据至数据校验器，控制数据校验器对测试激励数据进行校验以输出校验结果，以及将校验结果发送给上位机。本发明还提供相应的测试方法。本发明实现了对不同USB传输协议标准的物理层的一致性验证，成本低、结构简单、易于操作以及测试周期短。
基本信息
专利标题 ：
一种片上系统及USB物理层测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111090556A
申请号 ：
CN201911312547.4
公开（公告）日 ：
2020-05-01
申请日 ：
2019-12-18
授权号 ：
CN111090556B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
杜金凤张览刘锴宋国民贾瑞华
申请人 ：
广东高云半导体科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区科学大道243号1001房
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐双
优先权 ：
CN201911312547.4
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2020-05-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20191218
申请日 : 20191218
2020-05-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
