一种可调节样品高度与角度的电子探针样品座
授权
摘要

本实用新型涉及一种可调节样品高度与角度的电子探针样品座,包括螺纹升降球座,在螺纹升降球座上端为凹腔,凹腔内放入有一个与其相匹配的球形万向节,螺纹升降球座底部则安装在一个螺纹基座内,两者通过螺纹结构实现相固定,螺纹升降球座能够通过扭转实现上下移动,螺纹基座通过定位螺钉固定安装在样品台上。通过调节球头平面角度与高度来保证分析面保持水平和合适的高度;免去了试样的再次加工,使试样能快捷地放在样品座上进行电子探针分析,能够节省电子探针装样时间,提高电子探针分析工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种可调节样品高度与角度的电子探针样品座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920398380.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-27
授权号 :
CN210221874U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
雷中钰陈远生袁泉江钟寿军韦乾永李祥龙寻忠忠邹全林胡娟宋璇刘会全
申请人 :
广东韶钢松山股份有限公司
申请人地址 :
广东省韶关市曲江区厂南大道3号广东韶钢松山股份有限公司研究中心
代理机构 :
韶关市雷门专利事务所
代理人 :
周胜明
优先权 :
CN201920398380.7
主分类号 :
G01N23/2252
IPC分类号 :
G01N23/2252  G01N23/2251  G01N23/2204  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
G01N23/2252
测量受激X射线,例如电子探针微量分析
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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