一种电子探针用新型样品台
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摘要

本实用新型公开了一种电子探针用新型样品台,包括样品台,标样孔槽,探针片槽,横向支撑杆,纵向支撑杆,紧固压片,滑槽,紧固螺母,横向定位孔和纵向定位孔,所述样品台内部设置有标样孔槽,所述标样孔槽下侧设置有探针片槽,所述探针片槽内部连接有横向支撑杆,所述横向支撑杆左右两侧设置有横向定位孔,所述横向支撑杆上侧设置有纵向支撑杆,所述纵向支撑杆前后两侧设置有纵向定位孔,所述探针片槽下侧设置有紧固压片,所述紧固压片上侧设置有贯穿的滑槽,所述滑槽内部连接有紧固螺母,该实用新型在放入探针片的同时,可以放入标准样品靶,并对于非常规尺寸的样品片也可以直接放入样品台,不用对其二次加工,更加符合实际测试过程中的应用。

基本信息
专利标题 :
一种电子探针用新型样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021736270.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-19
授权号 :
CN212872258U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
徐爽张玉强林培军李凤春王继林栾日坚郭腾达顾清宇牟瑜张姝
申请人 :
山东正元地质资源勘查有限责任公司
申请人地址 :
山东省济南市历下区山师东路14号
代理机构 :
济南誉琨知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
袁彤彤
优先权 :
CN202021736270.6
主分类号 :
G01N23/2252
IPC分类号 :
G01N23/2252  G01N23/2204  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
G01N23/2252
测量受激X射线,例如电子探针微量分析
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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