一种用于电子探针测试的多功能样品台
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于电子探针测试的多功能样品台，包括台体，台体上设有一组标样靶圆形通孔和一个下沉平台，每个标样靶圆形通孔的孔壁设有侧向的从台体的侧壁穿出的顶丝孔，顶丝孔中设有顶丝，台体设有纵向的螺栓孔，螺栓孔中安装有螺栓。本实用新型提供的一种用于电子探针测试的多功能样品台结构简单、操作方便，能够能够同时放置不同尺寸样品，快速更换样品，减少换样时间，提高仪器效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于电子探针测试的多功能样品台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021578808.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-03
授权号 ：
CN212845122U
授权日 ：
2021-03-30
发明人 ：
史光宇黄运泽陈林刘婷刘峥
申请人 ：
武汉上谱分析科技有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区北斗路6号武汉国家地球空间信息产业化基地（新区）一期1.1期A11栋2层01室
代理机构 ：
武汉诚儒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘天钰
优先权 ：
CN202021578808.5
主分类号 ：
G01N23/2204
IPC分类号 ：
G01N23/2204 G01N23/2252
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架；样品的输送方法
法律状态
2021-03-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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