一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座,包括样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具;所述固定样品夹具和可调节样品夹具设置在样品台底盘上,所述固定样品夹具和可调节样品夹具相对设置,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间形成用于容纳标准样品和待测样品的容纳腔,所述固定样品夹具和可调节样品夹具之间的间距可调节;所述样品台底盘、可调节样品夹具和固定样品夹具均采用屏蔽材料制成。本发明的样品座在不影响电子探针正常测试的情况下能对放射性样品从源头上进行屏蔽,进而降低设备元器件所承受的辐射剂量水平、提高元器件的使用寿命、优化设备信息采集效率、保护试验人员和试验环境等的电子探针屏蔽样品座。
基本信息
专利标题 :
一种放射性试样的电子探针屏蔽样品座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518376A
申请号 :
CN202210150745.0
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王桢宁知恩伍晓勇吴璐方忠强滕常青王青青张伟匡慧敏李佳文信天缘毛建军辛虹阳斯嘉轩宋小蓉
申请人 :
中国核动力研究设计院
申请人地址 :
四川省成都市双流区长顺大道一段328号
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐邦英
优先权 :
CN202210150745.0
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204 G21F3/00 G21F1/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2204
申请日 : 20220218
申请日 : 20220218
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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