一种放射性试样的EBSD样品座
授权
摘要
本实用新型公开了一种放射性试样的EBSD样品座，包括底部托盘、连接件和样品容纳桶；所述样品容纳桶的一端为开端，所述样品容纳桶通过连接件倾斜设置在底部托盘上，所述样品容纳桶的开端为倾斜方向的高端；所述样品容纳桶采用屏蔽材料制成。本实用新型所述的EBSD样品座能够满足机械手对EBSD试样装样远程操作的条件，避免操作人员长时间近距离接触放射性样品，屏蔽降低表征过程中设备所受剂量，确保中子辐照后锆合金包壳材料EBSD数据获得，解决了辐照后锆合金EBSD试样装样和表征过程中人员和设备受照剂量过高的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种放射性试样的EBSD样品座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123193150.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-17
授权号 ：
CN216525539U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
滕常青王桢李佳文伍晓勇吴璐张伟匡慧敏方忠强宁知恩王青青孔祥刚周小钧辛虹阳肖文霞王海东
申请人 ：
中国核动力研究设计院
申请人地址 ：
四川省成都市双流区长顺大道一段328号
代理机构 ：
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
唐邦英
优先权 ：
CN202123193150.3
主分类号 ：
G01N23/20025
IPC分类号 ：
G01N23/20025 G01N23/204
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备
G01N23/20025
样品固定架或支架
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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