一种放射性试样的扫描电镜屏蔽样品座及系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种放射性试样的扫描电镜屏蔽样品座及系统,放射性试样的扫描电镜屏蔽样品座包括底卡板、屏蔽外筒、屏蔽内筒和样品台;所述屏蔽外筒一端与底卡板上端面连接,所述屏蔽内筒设置在屏蔽外筒内侧,且所述屏蔽内筒一端与底卡板上端面可拆卸式连接;所述样品台设置在屏蔽内筒内侧,且所述样品台的外壁与屏蔽内筒内壁接触,所述样品台在外力作用下实现升降;所述底卡板、屏蔽外筒、屏蔽内筒和样品台均采用屏蔽材料制成。本发明所述扫描电镜屏蔽样品座不仅能够实现放射性试样进行扫描电镜操作时对放射性样品从源头上进行屏蔽,且能适用于不同尺寸的样品。

基本信息
专利标题 :
一种放射性试样的扫描电镜屏蔽样品座及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509462A
申请号 :
CN202210151372.9
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王桢宁知恩伍晓勇吴璐张伟方忠强滕常青匡慧敏覃检涛周小钧毛建军辛虹阳孔祥刚莫华均
申请人 :
中国核动力研究设计院
申请人地址 :
四川省成都市双流区长顺大道一段328号
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐邦英
优先权 :
CN202210151372.9
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  G01N23/2251  G21F3/00  H01J37/20  H01J37/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2204
申请日 : 20220218
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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