一种用于分析不规则光片的电子探针样品台
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摘要

本实用新型涉及地质勘探电子探针测试用样品台技术领域,具体公开了一种用于分析不规则光片的电子探针样品台,包括样品台以及设置在样品台上的大光片放样区和小光片放样区,大光片放样区设有大光片样品孔,大光片样品孔内安装有大样品托,大样品托上放置大光片样品;小光片放样区设有两个小光片样品孔,小光片样品孔内安装有小样品托,大样品托上放置小光片样品;本实用新型采用设计不同尺寸的光片样品孔,适用不同非标准尺寸的光片,使得非标准尺寸光片能顺利进入电子探针腔室进行观测;对非标准尺寸的光片的固定形式多样;设计的样品托的底部设有调节凹槽,方便调节光片样品的高度,样品托的底部还设置水平调节螺钉,调节光片样品的水平。

基本信息
专利标题 :
一种用于分析不规则光片的电子探针样品台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202220200798.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2022-01-25
授权号 :
CN216747498U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
吴敏李增胜迟乃杰
申请人 :
山东黄金矿业股份有限公司矿业管理分公司;山东省地质科学研究院
申请人地址 :
山东省济南市历城区经十路2503号副楼二层208室
代理机构 :
济南舜科知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐娟
优先权 :
CN202220200798.4
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  G01N23/2252  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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