一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要
本实用新型公开了一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置,属于光谱分析领域。包括暗箱,暗箱的上部设置有可见‑近红外相机和短波红外相机,可见‑近红外相机和短波红外相机的,暗箱的中部设置有卤素光源,暗箱的底部设置有开口;暗箱的底部设置有样品箱,样品箱的上部设置有样品盘、驱动机构,样品盘上的一端设置有反射白板。本实用新型的一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置不仅仅能够实现一次性完成对样品全波段(400nm~2500nm)数据的采集,而且在很大程度上保证了待测样本在短时间内利用不同相机进行数据采集的时效性和准确性等问题,避免了样品在长时间光照条件下、高温环境下样本属性容易受到破坏等问题。
基本信息
专利标题 :
一种能够实现全波段连续推扫成像的扫描装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920447550.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-02
授权号 :
CN209841672U
授权日 :
2019-12-24
发明人 :
黄智辉刘业林陈兴海王金龙黄宇雷宇博
申请人 :
四川双利合谱科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市经济技术开发区(龙泉驿区)成龙大道二段1118号2栋26层5号
代理机构 :
成都弘毅天承知识产权代理有限公司
代理人 :
汤春微
优先权 :
CN201920447550.6
主分类号 :
G01N21/31
IPC分类号 :
G01N21/31
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
法律状态
2021-10-01 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/31
变更事项 : 专利权人
变更前 : 四川双利合谱科技有限公司
变更后 : 江苏双利合谱科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 610010 四川省成都市经济技术开发区(龙泉驿区)成龙大道二段1118号2栋26层5号
变更后 : 214023 江苏省无锡市梁溪区南湖大道飞宏路58-1-108
变更事项 : 专利权人
变更前 : 四川双利合谱科技有限公司
变更后 : 江苏双利合谱科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 610010 四川省成都市经济技术开发区(龙泉驿区)成龙大道二段1118号2栋26层5号
变更后 : 214023 江苏省无锡市梁溪区南湖大道飞宏路58-1-108
2019-12-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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