一种LAS磁感测试系统

授权

摘要

本实用新型公开一种LAS磁感测试系统，包括：进行产品测试的测试台、输出所述测试台所得数据的显示器、以及为所述测试台及显示器提供电源与气源的机柜，所述测试台包括装夹机构、校准机构、测试机构、磁通计探头、以及磁通计，所述测试机构包括分度盘、穿过所述分度盘的滚筒、与所述滚筒连接的电机、设置于所述滚筒前端的磁体、以及设于所述滚筒并位于分度盘前方的精准定位块。本实用新型通过电机带动磁体、精准定位块旋转，磁体的旋转会改变磁通量的大小，旋转的角度与磁通量的大小相对应，通过磁通计读取不同角度下磁体的磁通量大小，将读取的磁通量大小与标准磁通量相对比，判断被测角度传感器的性能是否合格。

基本信息

专利标题：

一种LAS磁感测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920460610.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-04

授权号：

CN209512767U

授权日：

2019-10-18

发明人：

高晓峰蒋石顺何国强向阳杨明剑尚俊凯

申请人：

深圳鸿泽自动化科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市龙岗区宝龙街道南约社区菠萝山工业区13号B栋201

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

谭雪婷

优先权：

CN201920460610.8

主分类号：

G01B7/30

IPC分类号：

G01B7/30