一种高安全性的中子检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种高安全性的中子检测装置,包括中子发射源、中子屏蔽盒、样品容置盒、中子成像探测器,样品容置盒设置在中子屏蔽盒内部,样品容置盒的上端连接有加液管,样品容置盒的下端连接有出液管,样品容置盒与中子屏蔽盒的内侧壁间隔设置,中子屏蔽盒与样品容置盒之间填充有防辐射介质,样品容置盒的左侧设有中子入射管,中子入射管的右端与样品容置盒的外壁连接,中子入射管的左端从中子屏蔽盒的左侧壁穿出,所述的样品容置盒的右侧设有中子出射管,中子出射管的左端与样品容置盒的外壁连接,中子出射管的右端从中子屏蔽盒的右侧壁穿出,中子发射源连接在中子入射管的左端,中子成像探测器连接在中子出射管的右端。
基本信息
专利标题 :
一种高安全性的中子检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920485445.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-11
授权号 :
CN210198998U
授权日 :
2020-03-27
发明人 :
钱铁威
申请人 :
广东太微加速器有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖园区工业南路8号1栋310室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920485445.1
主分类号 :
G01N23/05
IPC分类号 :
G01N23/05
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/05
利用中子
法律状态
2020-03-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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