一种基于锥形纳米孔的整流比及极性的调控装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于锥形纳米孔的电流整流比及极性的调控装置，该装置主要由硅基衬底的两个微腔和连接微腔的锥形纳米孔及电流检测回路构成。调控时，通过调节微腔入口背景盐浓度及酸碱浓度来调节锥形纳米孔的整流比及极性。同时利用电流检测回路测量电流，进而通过电流数据分析出锥形纳米孔整流比及极性的调控效果。本实用新型的优势在于:在微电子系统中电路板的运用,本装置具有结构尺寸小可调节范围广,锥形结构有利于电流整流比及极性的调控。
基本信息
专利标题 ：
一种基于锥形纳米孔的整流比及极性的调控装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920489006.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-12
授权号 ：
CN210604752U
授权日 ：
2020-05-22
发明人 ：
彭堙寅邓鲁豫黄志维丁行行周腾史留勇
申请人 ：
海南大学
申请人地址 ：
海南省海口市美兰区人民大道58号海南大学
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201920489006.8
主分类号 ：
G01R19/00
IPC分类号 ：
G01R19/00 B82Y40/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2020-05-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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