一种EVA膜表面缺陷检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种EVA膜表面缺陷检测系统，包括控制平台和采集装置，采集装置包括底板，底板的顶部固定安装有支架，底板的顶部且位于支架的内侧固定安装有检测灯，支架的内侧且位于检测灯固定安装有透明板，支架的顶杆前侧固定安装有第一转动机构，第一转动机构的输出端固定安装有伸缩杆，伸缩杆的底部前侧通过第二转动机构固定连接有第一摄像头，支架的顶杆后侧固定安装有第二摄像头。本实用新型通过设置了可以主动升降的第一摄像头，和可以分析损毁位置的定位分析单元，使第一摄像头可以定位到常发生损毁的位置，缩小拍摄范围，提高检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种EVA膜表面缺陷检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920500827.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-15
授权号 ：
CN209927744U
授权日 ：
2020-01-10
发明人 ：
莫家豪季森淼
申请人 ：
杭州东光科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市临安市太湖源镇光辉村
代理机构 ：
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
奚丽萍
优先权 ：
CN201920500827.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-01-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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