一种基于点激光的高精度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于点激光的高精度测量装置，包括点激光源、凸透镜、成像组件，所述成像组件包括设置在前端的远心镜头、设置在中间的增倍镜、设置在后端的高分辨率相机；所述凸透镜为KPT‑161K9平凸透镜（Ф6‑Ф25.4），直径25.4mm，焦距45mm；所述点激光源发射的入射光线经凸透镜汇聚到待测件表面后漫反射，其中一束反射光线从待测件表面依次通过远心镜头、增倍镜照射在高分辨率相机的感光元件上进行成像。本实用新型的测量精度为微米级，能满足微米级测量精度的要求。
基本信息
专利标题 ：
一种基于点激光的高精度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920522242.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-17
授权号 ：
CN210141847U
授权日 ：
2020-03-13
发明人 ：
程序贤邹意林
申请人 ：
万瞳智能科技成都有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区交子大道300号3栋22层5、6、7、8号
代理机构 ：
成都君合集专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张鸣洁
优先权 ：
CN201920522242.5
主分类号 ：
G01B11/30
IPC分类号 ：
G01B11/30 G01S7/481 G01S17/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/275
••用于检测轮子准直度
G01B11/30
用于计量表面的粗糙度和不规则性
法律状态
2020-03-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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