一种高精度激光测量装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种高精度激光测量装置及方法,包括工作台,所述工作台顶部中心安装有原子气室,且工作台中心两侧安装有磁场系统,工作台顶部一侧固定连接有温控系统,且工作台顶部中心两侧对称安装有第一固定杆和第二固定杆,本发明引入原子气室作为法拉第原子滤光器来进行激光测量,通过调节的磁场的大小,改变原子在磁场的能级分裂值,从而改变原子跃迁频率,继而改变滤光器的滤过频率,即通过滤光器的频率可调,在知道特定条件下的滤光器的滤过频率的情况下,通过该滤光器的激光频率同样对比得出,有利于测量不同频率的激光,同时该种设备方法的测量精度高,波长精度可达0.001nm,并且本发明的设备简单,制造成本低。
基本信息
专利标题 :
一种高精度激光测量装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383739A
申请号 :
CN202210058065.6
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李春来马光金何进岳玉涛魏益群秦来香常鹏媛陈景标
申请人 :
深港产学研基地(北京大学香港科技大学深圳研修院);北京大学深圳研究院
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新技术产业园南区科苑南路高新七道15号
代理机构 :
北京知无忧专利代理有限公司
代理人 :
朱凤成
优先权 :
CN202210058065.6
主分类号 :
G01J9/00
IPC分类号 :
G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/00
申请日 : 20220119
申请日 : 20220119
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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