本实用新型公开了一种降低中心针接触电阻的测试射频头新型结构，包括法兰、绝缘体、针管、第一弹簧、导电圆珠、针轴、衬套、第二弹簧、外导体和接触头，所述法兰套接在绝缘体的顶部，所述绝缘体的内部竖直设置有针管，所述针管的内部空腔设置有第一弹簧，所述针管的底部嵌入安装有针轴，该新型结构，可以通过针轴尾端与针管之间的接触进行传导，另外一方面，可以通过导电圆珠与针管的接触进行传导，使得传导效率大幅度的提升，传功过程稳定，从而降低射频头的插损，因此来降低产品的误测率，提高全自动测试产线的设备稼动率；另外，使用这种新型结构，对针管内壁的光洁度要求也会降低，从而提高生产针管的效率和降低加工针管的成本。