一种射频电阻综合参数测试装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种射频电阻综合参数测试装置,具体涉及测试装置领域,包括箱体,所述箱体包括箱身和箱盖,所述箱体上设有测试组件,所述箱身后侧固定设有出料口,所述箱盖顶部固定设有把手;所述测试组件包括固定壳,所述固定壳内部贯穿设有第一横杆和第二横杆,所述第一横杆和第二横杆上均套接设有第一齿轮,所述第一齿轮上套接设有第一齿条,所述第一横杆上套接设有第二齿轮。本实用新型通过直接将射频电阻放置在导电块上对射频电阻进行测试,防止发生触电,大大提高了安全性,箱盖上升带动第一滑杆和第二滑杆向两侧滑动,而使导电块上的射频电阻自动脱出落入箱身底部,无需人工进行取出操作,大大提升了测试的效率。

基本信息
专利标题 :
一种射频电阻综合参数测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921497431.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-09-10
授权号 :
CN210775596U
授权日 :
2020-06-16
发明人 :
刘忆萍
申请人 :
南京先正科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市浦口区高新开发区高科二路7号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921497431.8
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R27/02  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-06-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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