一种锗单晶位错检测装置
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摘要
本实用新型公开了一种锗单晶位错检测装置，包括工作台、活动夹具、反应箱、第一清洗箱、第二清洗箱和显微镜，所述工作台上设置有安装架，所述安装架的上端下表面设置有安装板，所述安装板的表面设置有横向的滑轨，所述活动夹具包括液压缸、安装座和收缩夹，所述液压缸安装于安装座上，所述安装座与安装板上的滑轨活动连接，所述收缩夹与液压缸的伸缩端出固定连接，所述反应箱安装于工作台的一端且位于安装架内部，所述反应箱的内部设置有检测液。本实用新型结构简单，使用方便，通过夹具对锗单晶进行协助腐蚀检测的工作，使得检测安全性较高，同时，可在检测前对锗单晶进行有效的清洗，从而提高了后续检测结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种锗单晶位错检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920720297.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-20
授权号 ：
CN210803066U
授权日 ：
2020-06-19
发明人 ：
王卿伟陈仕天郭友林柯尊斌陆海凤
申请人 ：
中锗科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市溧水经济开发区中兴东路9号
代理机构 ：
南京新慧恒诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
李晓静
优先权 ：
CN201920720297.7
主分类号 ：
G01N1/32
IPC分类号 ：
G01N1/32 G01N1/34 G01N21/95
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/32
抛光；腐蚀
法律状态
2020-06-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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