一种多触点定位测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种多触点定位测试装置，该装置包括多触点信号采集结构和MT光纤对接结构，所述多触点信号采集结构包括测试板、固定在所述测试板上的信号采集器及封装模块，所述MT光纤对接结构包括固定底座、安装在所述固定底座上的MT固定滑块及MT测试光纤接头。本实用新型通过信号采集器及弹性电流针对测试信号进行采集，使得电流针与封装模块的焊盘良好接触，保证了信号传输的稳定性；同时利用可调节的MT固定滑块对MIT接头进行固定，大大提供了测试效率，降低了生产成本。
基本信息
专利标题 ：
一种多触点定位测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920858731.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-10
授权号 ：
CN210142165U
授权日 ：
2020-03-13
发明人 ：
伏春张晖廖强
申请人 ：
成都鸿芯光电通信有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区天府四街66号航兴国际2号楼1502
代理机构 ：
成都虹盛汇泉专利代理有限公司
代理人 ：
刘冬静
优先权 ：
CN201920858731.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-03-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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