基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置

授权

摘要

本实用新型公开了基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置，包括：包括：激光光源、扩束镜、第一透镜、第二透镜、第一平面平晶、第二平面平晶、半反半透镜、采集模块和电脑处理终端；所述激光光源、扩束镜、第一透镜、半反半透镜和第一平面平晶通过光线连接，所述采集模块与所述电脑处理终端电连接，所述半反半透镜与第一平面平晶之间设有检测场。本实用新型通过水平和竖直两个维度进行检测，得到待测气体的折射率梯度、密度梯度、密度分布以及温度分布，适用性更强，提高检测准确性，大大降低了检测工序。

基本信息

专利标题：

基于二维剪切干涉测量待测气体参数的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920867709.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-10

授权号：

CN210376139U

授权日：

2020-04-21

发明人：

张新李飞龙孔嘉勇刘诗媚罗文华蔡静

申请人：

佛山科学技术学院

申请人地址：

广东省佛山市南海区狮山镇广云路33号

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司

代理人：

谢泳祥

优先权：

CN201920867709.X

主分类号：

G01N21/45

IPC分类号：

G01N21/45 G01N9/24 G01K11/00