迈克尔逊干涉仪测量气体密度分布的装置
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摘要

本实用新型属于物理参数测量装置,具体为一种迈克尔逊干涉仪测量气体密度分布的装置。本装置包括:单色平行光源、半反半透镜、两块平面反射镜、图像采集模块、图像处理模块;单色平行光源发射单色平行光;半反半透镜将一束单色平行光分成两束光强相等且成90°的单色平行光;两块平面反射镜用于反射单色平行光,两块平面反射镜与半反半透镜间的距离相等;半反半透镜与一块平面反射镜间设为检测区间;图像采集模块拍摄记录两束单色平行光叠加所形成的干涉条纹;图像处理模块对干涉条纹进行处理,并绘制出密度不均匀气体的等密度线。本实用新型利用了光学原理,能够在不干涉气体密度分布的前提下进行无损检测。

基本信息
专利标题 :
迈克尔逊干涉仪测量气体密度分布的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020452940.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-01
授权号 :
CN211877765U
授权日 :
2020-11-06
发明人 :
丛晓燕刘海涛韩岳
申请人 :
丛晓燕
申请人地址 :
山东省泰安市岱宗大街61号
代理机构 :
上海正旦专利代理有限公司
代理人 :
陆飞
优先权 :
CN202020452940.5
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2020-11-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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