低温测试平台
授权
摘要

本实用新型涉及光通信中光模块的测试技术领域,具体涉及一种光模块的低温测试装置。低温测试平台,其特征在于:包括底座、待测槽位、待测模块、测试槽位、测试板、测试模块、上盖,所述底座底部设置有冷却回路,冷却回路内有冷却液,冷却回路上部设置有待测槽位,待测槽位内放置待测模块,待测槽位上部的两端设置有测试槽位,测试槽位上部安装有测试板,测试槽位内放置测试模块,所述低温测试平台的顶部安装有上盖。本实用新型测试平台可以同时测试两个模块,并且实现预冷却功能,从而提高了低温测试效率,简化了设备,降低了成本,并且可以兼容XFP、SFP等封装形式的光模块,体积小巧、便携、可移动性强,无需专人安装,操作简单,适用于各种场合。

基本信息
专利标题 :
低温测试平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920882363.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-13
授权号 :
CN210051512U
授权日 :
2020-02-11
发明人 :
崔琳崔晓磊倪晓珍张文臣
申请人 :
大连藏龙光电子科技有限公司
申请人地址 :
辽宁省大连市高新园区火炬路35号
代理机构 :
大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
赵宝山
优先权 :
CN201920882363.0
主分类号 :
G01M11/00
IPC分类号 :
G01M11/00  G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试;其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2020-02-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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