光模块低温测试装置

授权

摘要

本实用新型公开一种光模块低温测试装置，包括：冷却底座结构和测试盒结构，所述冷却底座结构用于冷却光模块，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构上，所述测试盒结构用于在低温环境下测试光模块，所述冷却底座结构的顶部开敞设置以形成容纳槽，所述容纳槽内填充设有冷却介质，所述测试盒结构设于所述冷却底座结构的顶部、并罩设于所述容纳槽上。本实用新型提供的所述光模块低温测试装置，旨在解决现有技术中，由于测试盒结构上存在缺陷，导致出现测试降温时间长且测试环境差的问题。

基本信息

专利标题：

光模块低温测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021412814.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-16

授权号：

CN212458830U

授权日：

2021-02-02

发明人：

周月红

申请人：

武汉富基科技有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区高新四路19号生产基地资源回收室

代理机构：

深圳市恒程创新知识产权代理有限公司

代理人：

赵爱蓉

优先权：

CN202021412814.3

主分类号：

G01M11/00

IPC分类号：

G01M11/00