SFP光模块高低温测试盒
授权
摘要
本实用新型提出了一种SFP光模块高低温测试盒，包括单片机、温度检测电路、半导体TEC热电制冷片及由四个开关管构成的H桥电路。本实用新型通过半导体TEC热电制冷片实现制冷或制热，以实现SFP光模块高低温测试盒的高低温测试，结构简单、成本低、噪音小、无振动、无磨损、无污染且稳定性高。
基本信息
专利标题 ：
SFP光模块高低温测试盒
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021756860.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-20
授权号 ：
CN212988752U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
顾勇刚
申请人 ：
武汉中旗光电科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道303号光谷芯中心三期4-02幢9层2厂房单元号
代理机构 ：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李季
优先权 ：
CN202021756860.5
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G05B19/042 G01K7/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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