高低温老化测试机箱（3）
授权
摘要
1.本外观设计产品的名称：高低温老化测试机箱（3）。2.本外观设计产品的用途：用于半导体集成电路的高低温老化测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状与图案的结合。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。5.本外观设计产品的底面为使用时不容易看到或看不到的部位，省略仰视图。6.A部放大图为立体图中A处的局部放大图；B部放大图为主视图中B处的局部放大图。
基本信息
专利标题 ：
高低温老化测试机箱（3）
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202130191791.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-04-07
授权号 ：
CN307220729S
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
曹锐杜建裴敬邓标华
申请人 ：
武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202130191791.1
主分类号 ：
10-05
IPC分类号 ：
10-05
法律状态
2022-04-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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