一种薄膜检测装置及检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种薄膜检测装置及检测系统，本实用新型提供的薄膜检测装置及检测系统包括设置于薄膜封切机的薄膜盒和封切刀头之间的检测本体，所述检测本体一侧水平方向平行延伸设置有上延伸臂和下延伸臂，所述上延伸臂包括延伸臂本体、脉冲信号采集组件和脉冲信号处理组件，所述脉冲信号处理组件设于所述延伸臂本体内，所述脉冲信号采集组件上端与所述延伸臂本体下端连接，所述下延伸臂上表面设有导电层，穿过所述上延伸臂和下延伸臂之间的薄膜与所述导电层贴合并相对于所述导电层滑动，通过导电触点在薄膜破损处与导电层接触导通来检测薄膜破损。本实用新型提供的薄膜检测装置及检测系统具有检测薄膜是否破损的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种薄膜检测装置及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920910019.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-17
授权号 ：
CN210834735U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
张伟
申请人 ：
武汉市海泰机械有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市江岸区汉黄路888号武汉市岱家山科技创业城11号楼3单元501
代理机构 ：
武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
尹伟
优先权 ：
CN201920910019.8
主分类号 ：
G01N27/00
IPC分类号 ：
G01N27/00 G01M3/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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