一种用于工业机器视觉检测的半封闭式支架
授权
摘要
本实用新型提出了一种用于工业机器视觉检测的半封闭式支架,所述支架顶部支撑有遮光板,所述支架包括至少四个支撑脚,所述支撑脚分布在遮光板的前后两侧,每个所述支撑脚上部均设有托架,所有位于后侧的支撑脚的托架靠前侧设置并通过第一支撑横杆相连,所述第一支撑横杆的前侧连接第二支撑横杆,所述第二支撑横杆的前部连接在位于前侧的支撑脚的托架上,所述第二支撑横杆的上方设置有L型的抵持件,所述L型的抵持件通过其竖向板固定在托架上,所述L型的抵持件的横向板贴在第二支撑横杆的上侧面,所述遮光板的前侧开设有供抵持件横向板卡入的卡槽,所述L型的抵持件的横向板部分卡入该卡槽中。能够根据需要调整遮光板的高度,以及快速安装。
基本信息
专利标题 :
一种用于工业机器视觉检测的半封闭式支架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920925623.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-19
授权号 :
CN210803247U
授权日 :
2020-06-19
发明人 :
刘彦劼
申请人 :
重庆星禧科技发展有限公司
申请人地址 :
重庆市渝北区龙溪街道佳园路2号康田凯旋国际1幢1-15-4
代理机构 :
重庆天成卓越专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
路宁
优先权 :
CN201920925623.8
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-06-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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